特許7 計測・分析

計測・分析

更新日 2021年4月21日

公開/登録番号発明の名称外国出願
特開2020-033199 導電性ダイヤモンド電極の製造方法
特開2018-100968 流量測定装置、流量測定方法および流量測定プログラム
特許第6843397号 光学測定装置、光学測定方法、及び応力検査方法
特許第6632059号 デュアルコム分光法を用いた偏光計測装置及び偏光計測方法
特開2017-200678 分離用担体、分離用担体の製造方法、カラム、及び、液体クロマトグラフィー用装置又は固相抽出用装置
特許第6655245号 タンパク質又は病原体の検出用カートリッジおよび自動検出装置
特許第6595815号 偏波解析装置、及び偏波解析方法
特許第6547252号 紙基材デバイス及びその製造方法
特開2015-143969 工作機械制御装置、工作機械制御方法、及びプログラム
特許第6308518号 エネルギー自己供給型アクティブ振動制御システム
特許第6336265号 工作機械制御装置、工作機械制御方法、及びプログラム
特許第6247844号 構造物荷重伝達計算装置
特許第5827778号 非線形構造用荷重伝達解析装置
特許第6345219号 光導波路及びその製造方法
特許第5698047号 荷重伝達経路探索装置
特許第5806891号 移動ステージシステム及び加工トルクの計測方法
特許第5656161号 相関性評価方法、相関性評価装置、動作再現装置
特許第4310501号 荷重伝達経路法に基づく数値構造解析装置